产品信息
特 点
● 可测量0nm~的低(残留)相位差
● 在光轴检出同时,高速测量相位差 (Re.)
(世界领先的0.1秒以下的高速处理)
● 无驱动部,实现高再现性
● 需设置项目少,测量简单
● 测量波长除550nm以外,还有其他多种波长可选
● Rth测量、全方位角测量
(需要自动倾斜平台,选配件)
● 通过与拉伸试验机结合,可同时评估膜的偏光特性和光弹性
(此系统为定制)
测量项目
● 相位差(ρ[deg.], Re[nm])
● 主轴方位角(θ[deg.])
● 椭圆率(ε)· 方位角(γ)
● 三次元折射率(NxNyNz)
用 途
● 相位差膜、偏光膜、视野角补偿膜、各种功能性膜
● 树脂、玻璃等透明带有低相位差的样品(残留应力)